大声
【扒一扒】日本高纯球形硅微粉材料生产商
—— anndi

《【扒一扒】日本高纯球形硅微粉材料生产商》:  作为一种无机非金属矿物功能性粉体材料,硅微粉广泛应用于电子材料、电工绝缘材料、胶黏剂、特种陶瓷、精密铸造、油漆涂料、油墨、硅橡胶等领域。 目前,世界上只有中国、日本、韩国、美国等少数国家具备硅微粉生产能力... 全文 ?

0

第四章 原子显微镜方法在粘接基础研究中的应用

1、引言:两种材料通过作为膜的第三种材料(一种胶黏剂)连接起来产生的粘接不是这里要讨论的问题,本章重点研究关于两种材料或界面之间由于原子或者分子之间相互作用引起的基础粘接,这些作用力基本上取决于两个表面(特别是固体)以及周围空气或者液体的化学和物理性质。许多理论可以真实描述“表面”作用力和粘接的本质,理论的发展是为了解释理想(例如光滑)物理表面之间的相互作用,而不是严格(例如定量地)应用在普通表面上,本章的主题不是回顾理论的进展,而是着重介绍原子显微镜方法最近在粘接测定中的应用;

2、AFM方法论:原子显微镜(AFM)是扫描隧道显微镜的延伸,主要目的是提供高分辨率(理想状态下)的形态分析,适用于导电和非导电表面。
a.AFM成像的基本原理很简单:样品放置在压电定位器之上,与灵敏悬臂弹簧相连的尖端之下,表面的波动导致光控弹簧的偏移,获得的图像与尖端和样品之间的压力(作用力或施加力引起)密切相关,也就是说光学成像条件不可避免地与样品相关,这就是探针显微镜方法定量分析尖端与样品之间作用力的基本原理,因而在界面力和粘接测定中得到了应用;
b.弹簧常数偏移的常规(z轴)校正:典型的AFM悬臂用虎克(Hooke)定律处理AFM成像或者作用力研究中遇到的典型偏移,后者的主要目标是定量测定作用力,需要采用常规的校正方法;
c.压力扫描仪的校正:定量计算表面和粘接作用力也需要对Z轴压力扫描仪的运动进行校正,已经使用的方法之一是采用已知特征的样品进行校正扫描,但是样品更适合平面内而不是平面外的运动;
d.负载作用力:另外一个采用AFM技术的有利条件是分离前的负载作用力在测定数据时非常容易得到和改变,负载作用力可以用末端-样品接触后的Z轴扫描仪的扫面距离与弹簧常数简单相乘得到,为了改变负载作用力,可以简单的调整扫描开始的位置和扫描距离,另外通过比较稳定增加负载和降低负载对粘接的影响,可以用来研究粘接滞后现象;
e.胶体探针的相互作用:通常采用光学显微镜的微观操作技术把胶体探针连接在AFM的悬臂末端,胶体是由化学惰性的热固性树脂或环氧树脂,或者由大小适当和材料特殊( 蚀刻钨是理想的)的纤维粘接而成;
f.摩擦力:横向作用力显微镜方法(LFM)的出现提高了定量检测末端或者胶体与样品之间剪切或者摩擦力的可能性; 全文 »

    联系站长

    • Name:QiuBo QQ:1808976
      Email:Anndiqiu#Gmail.com
      Mobile Phone:13923499497

    热门文章

    添加站长微信,与站长在线实时交流

    QQ不在线时请用微信

链接